Abstract:
El siguiente trabajo fue desarrollado en el Instituto Tecnológico de Tuxtla Gutiérrez en el laboratorio de la Maestría en Ciencias en Ingeniería Mecatrónica (MCIM) en el periodo Enero-Junio 2011 como trabajo de Residencia Profesional. Este trabajo consta principalmente de dos partes, diseño y creación del Sistema Optoelectrónico para Medir el Índice de Refracción de un Compuesto Crómico (SOMIRCC). En la etapa de diseño se obtuvo una gran cantidad de información por medio de asesoría de expertos en el tema, artículos, libros e internet. Con esto
se establecieron ideas de diseño que fueron planteadas al asesor pero debido a que no se cumplía con el comportamiento del fenómeno ideal debido a las propiedades ópticas del material termocrómico a medir (Lofina), se optó por la recreación del fenómeno que establece la Ley de Snell, en el que un haz láser incide sobre la muestra, la atraviesa y debido al cambio de medio en el que el haz viaja este se refracta, para después de atravesar la muestra este vuelve a refractarse y a reincorporarse paralelamente al ángulo de incidencia, pero ahora con un desplazamiento sufrido por el fenómeno de refracción. En la etapa de construcción del sistema para la recreacíon del fenómeno se construyó un sistema de control optomecatrónico con Interfaz Gráfica de Usuario
(GUI por sus siglas en inglés), con el fin de llevar a cabo el fenómeno con una mayor exactitud y precisión para obtener experimentos de repetición en los que siempre los resultados mostraran los mismos resultados y llegar a una conclusión confiable
