Abstract:
Desde su fundación, el CIO ha venido usando la metrología óptica. En sus primeros años, se empleó para determinar características geométricas de superficies astronómicas (espejos de telescopios), durante el proceso de pulido. La mayoría de las pruebas ópticas de taller implementadas fueron basadas en interferometría clásica. Posteriormente se empezó a ampliar las aplicaciones de metrología óptica con fines de determinar índices de refacción y campos de temperatura en flamas. El paso de reducir datos a partir de los interferogramas “manualmente” o por conteo de franjas a hacerlo mediante el procesamiento digital, fue de manera natural; pues el CIO se ha caracterizado por mantener en su infraestructura las tecnologías modernas. Así que, el advenimiento de computadoras rápidas, cámaras digitales y tarjetas digitalizadoras, ampliaron aún más las aplicaciones de la metrología óptica y, se empieza a utilizar técnicas basadas en interferometría de moteado (speckle) y holografía digital unidos a láseres pulsados y cámaras rápidas. Estos primeros estudios fueron probados para determinar la topografía de una superficie. Este reporte marca el inicio de una investigación que se extenderá hasta un periodo aproximado de tres años, el cual abarca un área poca explorada y que conllevara una demanda progresiva de técnicas de prueba con fines de control de calidad, detección de falla y caracterización. Cabe mencionar que no hay mucha información publicada y lo que se encuentra disponible esta en otros idiomas como era de esperarse, por lo que resulta excelente contar con un poco mas de información extra sobre los temas inmersos en este proyecto
