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Caracterización mecánica de materiales mediante microscopía interferométrica

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dc.contributor.author López Solís, Galdino
dc.date.accessioned 2020-03-10T20:05:10Z
dc.date.available 2020-03-10T20:05:10Z
dc.date.issued 2009-01
dc.identifier.uri http://repositorio.digital.tuxtla.tecnm.mx/xmlui/handle/123456789/1549
dc.description.abstract Los orígenes de la tecnología óptica se remontan a la antigüedad. En Éxodo 38:8 (ca. 1200 a. C.) se relata cómo, mientras preparaba el arca y el tabernáculo, Besabel remoldeaba <> en un lavabo de latón (una vasija de ceremonia). Los primeros espejos se hicieron de cobro pulido, bronce y más tarde de especulum una aleación de cobre rica en estaño. Los filósofos griegos, Pitágoras, Demócrito, Empédocles, Platón, Aristóteles y otros desarrollaron varias teorías sobre la naturaleza da la luz (la del último mencionado era muy similar a la teoría del éter del siglo diecinueve). Se conocían tanto la propagación rectilínea de la luz, como la ley de reflexión enunciada por Euclídes (300 a. C.) en su libro Catóptrica. (1) La Óptica es la rama de la física que estudia el comportamiento de la luz, abarca el estudio de la reflexión, la refracción, las interferencias, la difracción, la manipulación, la interacción de la luz con la materia, entre otras. (2) El ser humano entra en contacto con la óptica desde el momento en que sus ojos ven la primera luz, al momento de nacer. James Clerk Maxwell, uno de los más grandes científicos de la historia, entre muy importantes descubrimientos demostró que la luz era una parte del espectro electromagnético, es decir que difiere con las demás ondas (como pueden ser ondas de radio, microondas, rayos ultravioleta, infrarrojos) solo en su longitud de onda (distancia entre cresta y cresta de la onda) Luz es entonces la región del espectro electromagnético visible al ojo. es_MX
dc.language.iso es es_MX
dc.relation.ispartofseries MD/RPIM2009004;
dc.subject Caracterización mecánica de materiales mediante microscopía interferométrica. es_MX
dc.title Caracterización mecánica de materiales mediante microscopía interferométrica es_MX
dc.type Technical Report es_MX


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