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dc.contributor.author | Velasco Gutiérrez, María Guadalupe | |
dc.date.accessioned | 2021-04-20T16:07:39Z | |
dc.date.available | 2021-04-20T16:07:39Z | |
dc.date.issued | 2013-12 | |
dc.identifier.issn | 2013052 | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.digital.tuxtla.tecnm.mx/xmlui/handle/123456789/2279 | |
dc.description.abstract | La medición es un proceso básico de la ciencia que consiste en determinar la magnitud de un objeto en cuando a cantidad, esto nos permite tener información útil para convivir y transformar de manera inteligente nuestro entorno natural. Por eso, se han desarrollado muchísimas técnicas de medición en distintas área de la ciencia. Existen distintos medios para medir deformaciones en objetos, tales como mecánicos, acústicos, ópticos, electrónicos, entre otros. En la actualidad los medios ópticos han ganado terreno sobre los tradicionales debido a sus grandes ventajas, tales como, medir en campo completo, son no invasivas, de alta resolución, etc. La metrología óptica es el área de la óptica que tiene como objetivo efectuar medidas de muy alta precisión utilizando ondas de luz. Esto se realiza mediante instrumentos llamados interferómetros, basados en el fenómeno de interferencia. Gracias a las técnicas de medición por Interferometría óptica, es posible medir esfuerzos mecánicos, desplazamientos muy pequeños, deformación, modos de vibración, determinación de la forma de una superficie, etc. tanto en procesos estáticos, transitorios o dinámicos, con excelentes resultados. | es_MX |
dc.language.iso | es | es_MX |
dc.relation.ispartofseries | RESID. PROF.;MDRPIEL2013052 | |
dc.subject | Interferencia | es_MX |
dc.subject | Holografía | es_MX |
dc.subject | Interferómetro | es_MX |
dc.subject | Sincronización | es_MX |
dc.subject | Velocidad | es_MX |
dc.title | Adaptación de Nuevos Elementos Ópticos a un Interferómetro | es_MX |
dc.type | Technical Report | es_MX |