Repositorio Dspace

SISTEMA OPTOELECTRÓNICO PARA MEDIR EL ÍNDICE DE REFRACCIÓN DE UN COMPUESTO CRÓMICO (SOMIRCC)

Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.author García Flores, Luís Alberto
dc.date.accessioned 2021-05-14T17:50:42Z
dc.date.available 2021-05-14T17:50:42Z
dc.date.issued 2011-06
dc.identifier.issn 2011050
dc.identifier.uri http://repositorio.digital.tuxtla.tecnm.mx/xmlui/handle/123456789/2398
dc.description.abstract Este trabajo consta principalmente de dos partes, diseño y creación del Sistema Optoelectrónico para Medir el Índice de Refracción de un Compuesto Crómico (SOMIRCC). En la etapa de diseño se obtuvo una gran cantidad de información por medio de asesoría de expertos en el tema, artículos, libros e internet. Con esto se establecieron ideas de diseño que fueron planteadas al asesor pero debido a que no se cumplía con el comportamiento del fenómeno ideal debido a las propiedades ópticas del material termocrómico a medir (Lofina), se optó por la recreación del fenómeno que establece la Ley de Snell, en el que un haz láser incide sobre la muestra, la atraviesa y debido al cambio de medio en el que el haz viaja este se refracta, para después de atravesar la muestra este vuelve a refractarse y a reincorporarse paralelamente al ángulo de incidencia, pero ahora con un desplazamiento sufrido por el fenómeno de refracción. es_MX
dc.language.iso es es_MX
dc.relation.ispartofseries RESID.PROF.;MDRPIEL2011050
dc.subject OPTOELECTRICA es_MX
dc.subject INDICE DE REFRACCION es_MX
dc.subject COMPUESTO CRÓMICO es_MX
dc.subject OPTOMECATRONICA es_MX
dc.title SISTEMA OPTOELECTRÓNICO PARA MEDIR EL ÍNDICE DE REFRACCIÓN DE UN COMPUESTO CRÓMICO (SOMIRCC) es_MX
dc.type Technical Report es_MX


Ficheros en el ítem

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem

Buscar en DSpace


Búsqueda avanzada

Listar

Mi cuenta