DETECCIÓN DE FUGAS EN DUCTOS UTILIZANDO LA TRANSFORMADA RÁPIDA DE FOURIER

Abstract

Existen diferentes m´etodos para la detecci´on de eventos anormales en ductos, algunos son On-line, como por ejemplo: el basado en el monitoreo de flujo y presi´on y otros m´etodos basados en un modelo del fluido en el ducto. Dentro de los m´etodos Off-line se encuentra el basado en la medici´on de la onda de presi´on, el que realiza pruebas de termograf´ıa infrarroja, los detectores de emisi´on ac´ustica y el de fibra ´optica. En el presente trabajo se propone la utilizaci´on de un parche de monitoreo con sensores embebidos (rejillas de Bragg, termopares y galgas extensiom´etricas) para estudiar los efectos de eventos anormales en las tuber´ıas y medir la deformaci´on que producen. En este trabajo se analizaron s´olo las mediciones producidas por las rejillas de Bragg en fibra, las cuales tienen diversas aplicaciones (Cerecedo-N´u˜nez and Iturbe-Castillo, 1998) como el dise˜no y desarrollo de productos para pruebas estructurales de tensi´on y fatiga, adquisici´on de datos de carga en carretera, monitoreo de infraestructuras, medici´on de fuerza, carga, deformaci´on y par; y posee caracter´ısticas ´unicas que permiten utilizarlas como sensores para aplicaciones complejas debido a que son inmunes a las interferencias electromagn´eticas, adem´as se pueden utilizar en condiciones de alto riesgo de explosi´on, son estables ante la influencia de la humedad (si se instalan con adhesivos de resina) y tienen una sensibilidad intr´ınseca a la temperatura. Con un tratamiento adecuado cada rejilla puede hacerse sensible a diferentes par´ametros como: temperatura, deformaci´on, presi´on, aceleraci´on, desplazamiento, etc. Esto quiere decir que la respuesta de cada rejilla depender´a del tipo de excitaci´on en la entrada, ya que la forma de inscribir la rejilla de Bragg en la fibra ´optica es la misma. Por ejemplo si la fibra se estira o se comprime, la rejilla puede medir la deformaci´on, y si a la fibra se le aplica calor sufre una variaci´on en el ´ındice de refracci´on del silicio, inducido por el efecto termo´optico que nos permite medir la temperatura.