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Sistema de Visión Aplicados a la Mecatrónica

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dc.contributor.author Salinas Hernández, Juan Carlos
dc.date.accessioned 2021-07-26T20:32:46Z
dc.date.available 2021-07-26T20:32:46Z
dc.date.issued 2009-06
dc.identifier.issn 2009048
dc.identifier.uri http://repositorio.digital.tuxtla.tecnm.mx/xmlui/handle/123456789/2690
dc.description.abstract En metrología óptica el uso de arreglos interferometricos y de proyección de luz estructurada han sido de gran utilidad para llevar a cabo la cuantificación de las cantidades físicas que están codificadas. El propósito de estas técnicas es primero obtener imágenes de patrones de franjas o interferogramas generadas de los arreglos experimentales y posteriormente tratarlas digitalmente mediante algoritmos para calcular y decodificar el término de fase, el cual está relacionado con la cantidad física que se está cuantificando. Estas imágenes en la mayoría de las ocasiones vienen mal contrastadas además de tener una gran cantidad de ruido inmerso, lo cual complica el cálculo del término de fase. Lo recomendable para obtener una buena aproximación del término de fase es obtener diferentes imágenes variando los parámetros del arreglo experimental y digitalizando las imágenes resultantes. es_MX
dc.language.iso es es_MX
dc.relation.ispartofseries RESID.PROF.;MDRPIEL2009048
dc.subject Sistema es_MX
dc.subject Mecatrónica es_MX
dc.subject Óptica es_MX
dc.title Sistema de Visión Aplicados a la Mecatrónica es_MX
dc.type Technical Report es_MX


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