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MEDICIÓN DEL GROSOR EN PELÍCULAS DELGADAS

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dc.contributor.author Ovando Gutiérrez, Sergio Iván
dc.date.accessioned 2021-08-03T17:26:16Z
dc.date.available 2021-08-03T17:26:16Z
dc.date.issued 2009-11-30
dc.identifier.issn 2010036
dc.identifier.uri http://repositorio.digital.tuxtla.tecnm.mx/xmlui/handle/123456789/2750
dc.description.abstract Hoy en día el desarrollo de nuevos materiales en forma de película delgada es cada vez más importante en la Ciencia e Ingeniería de Materiales, no sólo por el conocimiento que se adquiere al estudiarlas y caracterizarlas, sino por sus aplicaciones, las cuales van en aumento y se extienden a prácticamente todas las áreas del conocimiento científico incluyendo, electrónica, óptica, catálisis, biomateriales, etc. Por lo que el conocimiento de las características y de las utilidades de las películas delgadas es importante, y más lo es aún la construcción de instrumentos capaces de medir propiedades básicas del elemento, como el grosor y el índice de refracción de las películas delgadas, es importante; por lo que se emprente la construcción de un instrumento que nos permitirá conocer el grosor e índice de refracción de películas delgadas de manera que no se afecte en lo absoluto la constitución física del elemento. es_MX
dc.language.iso es es_MX
dc.relation.ispartofseries RESID.PROF.;MDRPIEL2010036
dc.subject Película delgada es_MX
dc.subject DAC es_MX
dc.subject PC-TAD es_MX
dc.title MEDICIÓN DEL GROSOR EN PELÍCULAS DELGADAS es_MX
dc.type Technical Report es_MX


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